《集成电路原理与设计》全面系统地讲解了MOS和双极型数字集成电路和原理与设计。全书分为8章。第1章是绪论，介绍了集成电路的发展。第2章讲解了MOS和双极型集成电路的制作工艺以及SOI CMOS和BICMOS电路的制作工艺。第3章深入分析了MOS和双极型器件的工作原理以及SPICE模型，并讨论了集成电路中的无源元件以及互连线的寄生效应。第4章系统地讲解了MOS和双极型数字集成电路的基本电路结构，电路的工作原理和设计考虑。第5章分析了数字集成电路中常用的电路模块，包括组合逻辑电路模块、各种触发器以及时序电路模块。第6章讨论了集成电路的I/O设计。第7章简单介绍了MOS存储器。第8章全面地讨论了集成电路的设计方法以及数字集成电路的牌图设计方法。《集成电路原理与设计》内容先进，反映了集成电路的最新发展。在内容安排是突出重点，强调基本知识，条理清楚，讲解透彻，...(展开全部)

全书共有9章内容。主要内容包括：模拟集成电路中的无源器件、结型栅场效应晶体管、MOSFET、CCD、模拟集成电路器件的参数提取、MOS放大器、集成运算放大器、集成功率放大器和导体制造技术。本书可以作为电子科学与技术、微电子、集成电路工程等专业本科生的模拟集成电路设计课程的教材，也可以作为电子科学与技术专业研究生的教材。

本书是普通高等教育“十一五”国家级规划教材。本书遵循集成电路设计的流程，介绍集成电路设计的一系列基础知识。主要内容包括集成电路的材料、制造工艺和器件模型、集成电路模拟软件SPICE的基本用法、集成电路版图设计、模拟集成电路基本单元、数字集成电路基本单元、集成电路数字系统设计、集成电路的测试与封装等。本书提供配套电子课件。

本书是普通高等教育“十一五”国家级规划教材。本书遵循集成电路设计的流程，介绍集成电路设计的一系列基础知识。主要内容包括集成电路的材料、制造工艺和器件模型、集成电路模拟软件SPICE的基本用法、集成电路版图设计、模拟集成电路基本单元、数字集成电路基本单元、集成电路数字系统设计、集成电路的测试与封装等。本书提供配套电子课件。

本书从广度和深度两方面阐述CMOS集成电路后端设计流程与设计技术，并通过实战案例深入地讲解技术应用，有助于集成电路后端设计的初学者同时提高理论与实战水平。全书共有14章，分为三部分：后端全定制设计（标准单元库设计）及实战、后端半定制设计（布局布线设计）及实战、静态时序分析及实战。本书适合作为微电子与集成电路相关专业研究生、本科生、专科生的教材和教辅书，也可作为电子、自控、通信、计算机类工程技术人员学习集成电路设计软件和进修集成电路设计的专业技术参考书和工具书。

本书立足一个完整的通信系统，从信号处理的角度逐步引出射频集成电路设计中的相关方法学，以期帮助读者建立一个完备而收敛的知识体系，具体内容包括射频集成电路设计基础知识，阻抗匹配及稳定性，频域分析，射频通信基础与链路预算，射频集成电路架构，低噪声放大器，射频混频器，功率放大器，射频振荡器，锁相环，频率综合器，射频收发机设计实例。本书配套提供了晶体管级射频收发机工程设计供读者参考，从工程实现的角度帮助读者掌握射频集成电路的设计原理。

本书系统地介绍了集成电路测试所涉及的基础知识和实践经验。全书共分为15章。其内容包括实际的导线、电阻、电容、电感元件在测试电路中的影响，自动测试设备（ATE）V/I源的基本原理和实际应用限制，一些简单的模拟和数字集成电路测试原理和方法，测试数据分析的常用方法，以及测试电路相关的信号完整性方面的简单介绍，并结合测试开发的实际案例讲解了集成电路测试项目开发流程。以往这些内容分散到不同教材中，缺乏系统性。本书以集成电路测试为主线，从ATE应用角度，结合编者多年来的研发和应用经验，将基础知识串联起来。尤其从测试行业新人培养出发，加入了V/I源的基本原理和实际应用限制的讲解，并提供了仿真模型，使读者能够快速、全面地了解集成电路测试所需的各项基础知识。本书可作为集成电路测试工程师的学习教材，或者集成电路自动测试设备应用工程师的基础知识培训教材。

《专用集成电路》介绍了半定制和可编程的ASIC。在对每种ASIC类型的数字逻辑设计与物理特性的基本原理进行描述后，讨论了ASIC逻辑设计，设计输入、逻辑综合、仿真以及测试，并进一步讲述了相应的物理设计，划分、平面布图规划、布局以及布线。此外，《专用集成电路》对ASIC设计中涉及到的各种知识以及必需的工作都有详尽论述。

本书全面、系统地介绍了集成电路测试技术。全书共分10章，主要内容包括：集成电路测试概述、数字集成电路测试技术、模拟集成电路测试技术、数模混合集成电路测试技术、射频电路测试技术、SoC及其他典型电路测试技术、集成电路设计与测试的链接技术、测试接口板设计技术、集成电路测试设备、智能测试。书后还附有详细的测试实验指导书，可有效指导读者开展相关测试程序开发实验。 本书可供集成电路测试等相关领域的科研人员和工程技术人员阅读使用，也可以作为高等院校电子科学与技术、微电子工程等相关专业的教学用书。